Teseq NSG 5071 Inductive Switch Transient Test Circuit

Il NSG 5071 Inductive Switch Transient Test Circuit è progettato esattamente in conformità con l'EMC-CS-2009.1 per gli impulsi di test CI 220 A1, A2-1, A2-2, C1, C2 e RI 130 utilizzando un circuito di test del generatore di transitori induttivo / relè.

L'NSG 5071 mostra anche la Forma d'Onda F CI 260 F in questo circuito di prova che utilizza lo stesso tipo di relè. Questo circuito di prova è definito nell'allegato F per gli impulsi A, C e RI 130 e figura 19-10 per CI 260 Waveform F.

La filosofia di base di questo circuito di prova è una migliore riproducibilità dei transitori di commutazione reali. La riproducibilità di questo circuito di prova non deriva dalle caratteristiche di uscita come nei tradizionali test di immunità automobilistica condotti, ma da un design fisso del generatore che utilizza diversi componenti predefiniti. Molti di questi componenti sono definiti nello standard come “critici” senza alcuna sostituzione consentita. Questi componenti sono usati come richiesto nello standard.