Inprotec PTvis – Termografia Impulsata per CND


La tecnica della termografia impulsata  viene utilizzata per analizzare interfacce, spessori e difetti materiali in componenti e rivestimenti. La termografia impulsata è basata sul principio dell’alterazione dell’equilibrio termico del materiale con un impulso d’energia per un periodo molto breve (tipicamente alcuni millesimi di secondo). Il periodo di raffreddamento fornisce informazioni sulla conducibilità termica. L’aumento della temperatura indotta deve essere sufficientemente elevato per seguire il raffreddamento in modo ottimale.
Il componente è stimolato con potenti lampade flash allo Xenon.


Richiedi Informazioni

Sistema termografico

  • Sensore: InSb con 320 x 256 pixel / 640 x 512 pixel. In alternativa sensore MCT
  • Risposta spettrale: da 3 µm a 5 µm. In alternativa da 8 µm a 12 µm
  • Obiettivo: 25 mm, f/2 (Obiettivi opzionali a richiesta).
  • Frequenza immagine: fino a 380 Hz (>1kHz con parzializzazione immagine).
  • NETD: <16mK a 25°C
  • Tempo d’integrazione: regolabile da 1 µs a 10 ms.
  • Sincronizzazione: Interna od esterna con l’immagine FPA.
  • Campo di temperatura: da -40°C a +200°C

Sistema di stimolazione

  • Tipo: lampade singole o flash ad anello
  • Potenza: fino a fino 14kJ
  • Impulso: 1 ms (tipico)